天津电子元器件冷热冲击
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产品描述

检测项目冷热冲击测试 检测项目2振动测试 检测项目3温度循环 检测项目4湿度加载寿命 检测项目5温度加载寿命 周期5-7日
STT经过数年的积累和发展已建设成为一个集试验技术研究与应用、试验检测与分析、试验设备研制为一体的综合性检测服务机构。拥有一支高学历高素质团队,具备丰富的环境可靠性试验工程技术、失效分析技术、理化检测技术研究及实践经验,依据ISO/IEC17025:2006进行实验室管理,遵循“、、科学、”的准则,依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准,为企业提供检测技术服务。
对于电子元器件,特别是对于在环境条件下使用的电子元器件,进行模拟环境影响的测试是重要的。以下是一些常见的电子元器件模拟环境影响的测试项目:
天津电子元器件冷热冲击
冲击测试:模拟元器件在运输或使用过程中受到的冲击影响,包括机械冲击、自由跌落等测试,以评估元器件的抗冲击能力和结构强度。
天津电子元器件冷热冲击
参考标准:
GB/T 1409-2006
GB/T 1693-2007
ASTM D150-11
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温升
温升是指电子电气设备中的各个部件高出环境的温度。
电子元器件受环境影响很大,我们致力于解决该问题,苏州赛拓检测欢迎您的咨询
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