检测项目冷热冲击测试
检测项目2振动测试
检测项目3温度循环
检测项目4湿度加载寿命
检测项目5温度加载寿命
周期5-7日
赛拓检测（简称STT）是国内较早开展环境可靠性工程检测技术的研究与应用的第三方检测服务机构，经过十数年的发展，已成为集环境可靠性测试、机械可靠性测试、包装运输测试、材料测试、电磁兼容测试、安规、失效分析、理化检测等项目为一体的综合性检测服务机构。现有规模、测试能力和水平处于国内检测机构的水平，并培养出一批高素质检测工程师人员，积累了丰富的检测经验。
对于电子元器件，特别是对于在环境条件下使用的电子元器件，进行模拟环境影响的测试是重要的。以下是一些常见的电子元器件模拟环境影响的测试项目：
击穿电压
在规定的试验条件下，试样发生击穿时的电压，单位KV
参考标准：
ASTM D149-09(2013)
GB/T 1408.1-2006
IEC 60243-1-2013
ASTM D1000-10
GB/T 4677-2002
参考标准：
EIA-364-20C
设备参数：
Agilent/34420A
一般要求接触电阻在10-20 mohm以下。 有的开关则要求在100-500uohm以下。有些电路对接触电阻的变化很敏感。 应该指出， 开关的接触电阻是开关在若干次的接触中的所允许的接触电阻的大值。
在电路板上是专指金手指与连接器之接触点，当电流通过时所呈现的电阻之谓。为了减少金属表面氧化物的生成，通常阳性的金手指部份，及连接器的阴性卡夹子皆需镀以金属，以抑抵其“接载电阻”的发生。其他电器品的插头挤入插座中，或导针与其接座间也都有接触电阻存在。
电子元器件受环境影响很大，我们致力于解决该问题，苏州赛拓检测欢迎您的咨询
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