检测项目冷热冲击测试
检测项目2振动测试
检测项目3温度循环
检测项目4湿度加载寿命
检测项目5温度加载寿命
周期5-7日
STT实验室作为一个性的第三方检测机构，其运行资质一直是STT及广大客户关注的重点，为此STT通过了ISTA 国际安全运输协会的认可，出具的数据及报告、、科学、，与所有成员国达成互认。 STT坚持 ISO/IEC 17025体系要求的持续改善精髓理念，长期致力于改善结构、优化流程，力求以更的检测技术、更的设备、更的服务、更有优势的价格服务广大企业用户。
c.排除因原材料、加工或运输对绝缘的损伤，降低产品早期失效率。
对于电子元器件，特别是对于在环境条件下使用的电子元器件，进行模拟环境影响的测试是重要的。以下是一些常见的电子元器件模拟环境影响的测试项目：
导体通流后产生电流热效应，随着时间的推移，导体表面的温度不断地上升直至稳定。稳定的条件是在3个小时内前后温差不**过2℃，此时测得导体表面的温度为此导体的终温度，温度的单位为度（℃）。上升的温度中**过周围空气的温度（环境温度）的这一部分温度称为温升，温升的单位为开氏（K）。有些关于温升方面的文章和试验报告及试题中，经常把温升的单位写成（℃），单位用度（℃）来表示温升是不妥当的。应该用（K/W）来表示。为验证电子产品的使用寿命、稳定性等特性，通常会测试其重要元件（IC芯片等）的温升，将被测设备置于**其额定工作温度（T=25℃）的某一特定温度（T=70℃）下运行，稳定后记录其元件**环境温度的温升，验证此产品的设计是否合理。
环境老化测试：模拟元器件在长期使用或存储过程中受到的环境影响，包括高温老化、高湿老化等测试，以评估元器件的寿命和稳定性。
电子元器件受环境影响很大，我们致力于解决该问题，苏州赛拓检测欢迎您的咨询
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