检测项目冷热冲击测试
检测项目2振动测试
检测项目3温度循环
检测项目4湿度加载寿命
检测项目5温度加载寿命
周期5-7日
STT致力于通过在环境可靠性试验与试验工程技术方面自主科技创新活动，为电子、汽车、集成电路、微波、光电、机电、机械、IT领域等不同厂商生产的产品提供、全面的可靠性试验、可靠性设计及工艺改进的系统解决方案，促进科技进步，确保产品的质量与可靠性符合标准，降低企业质量成本、促进企业发展、增强企业的竞争力。
介电常数
电容器的电之间及电周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电构成的真空电容C0之比εr=Cx/C0
参考标准：
GB/T 1409-2006
GB/T 1693-2007
ASTM D150-11
温升
温升是指电子电气设备中的各个部件高出环境的温度。
参考标准：
EIA-364-20C
设备参数：
Agilent/34420A
冲击测试：模拟元器件在运输或使用过程中受到的冲击影响，包括机械冲击、自由跌落等测试，以评估元器件的抗冲击能力和结构强度。
电子元器件受环境影响很大，我们致力于解决该问题，苏州赛拓检测欢迎您的咨询
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