检测项目冷热冲击测试
检测项目2振动测试
检测项目3温度循环
检测项目4湿度加载寿命
检测项目5温度加载寿命
周期5-7日
STT实验室作为一个性的第三方检测机构,其运行资质一直是STT及广大客户关注的重点,为此STT通过了ISTA 国际安全运输协会的认可,出具的数据及报告、、科学、,与所有成员国达成互认。 STT坚持 ISO/IEC 17025体系要求的持续改善精髓理念,长期致力于改善结构、优化流程,力求以更的检测技术、更的设备、更的服务、更有优势的价格服务广大企业用户。
介质损耗
由绝缘材料作为介质的电容器上锁施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角为介质损耗角,其正切值为介质损耗因数。

介电强度
在规定的试验条件下,击穿电压与施加电压的两电之间距离(即样品厚度)的商。单位KV/mm

温升
温升是指电子电气设备中的各个部件高出环境的温度。

体积电阻率
在绝缘材料里面的主流电场强度和稳态电流密度之商,即单位体积内的体积电阻;单位为Ω·cm或Ω·m
参考标准:
GB/T 3048.3-2007
GB/T 1410-2006
GB/T 15662-1995
ASTM D257-14
电子元器件受环境影响很大,我们致力于解决该问题,苏州赛拓检测欢迎您的咨询
http://szsttcert.b2b168.com