检测项目冷热冲击测试
检测项目2振动测试
检测项目3温度循环
检测项目4湿度加载寿命
检测项目5温度加载寿命
周期5-7日
STT实验室作为一个性的第三方检测机构,其运行资质一直是STT及广大客户关注的重点,为此STT通过了ISTA 国际安全运输协会的认可,出具的数据及报告、、科学、,与所有成员国达成互认。 STT坚持 ISO/IEC 17025体系要求的持续改善精髓理念,长期致力于改善结构、优化流程,力求以更的检测技术、更的设备、更的服务、更有优势的价格服务广大企业用户。
a.检测绝缘耐受工作电压或过电压的能力。
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环境老化测试:模拟元器件在长期使用或存储过程中受到的环境影响,包括高温老化、高湿老化等测试,以评估元器件的寿命和稳定性。
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导体通流后产生电流热效应,随着时间的推移,导体表面的温度不断地上升直至稳定。稳定的条件是在3个小时内前后温差不**过2℃,此时测得导体表面的温度为此导体的终温度,温度的单位为度(℃)。上升的温度中**过周围空气的温度(环境温度)的这一部分温度称为温升,温升的单位为开氏(K)。有些关于温升方面的文章和试验报告及试题中,经常把温升的单位写成(℃),单位用度(℃)来表示温升是不妥当的。应该用(K/W)来表示。为验证电子产品的使用寿命、稳定性等特性,通常会测试其重要元件(IC芯片等)的温升,将被测设备置于**其额定工作温度(T=25℃)的某一特定温度(T=70℃)下运行,稳定后记录其元件**环境温度的温升,验证此产品的设计是否合理。
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温度测试:模拟元器件在不同温度条件下的性能表现,包括高温、低温、温度循环等测试,以评估元器件在不同温度环境下的稳定性和可靠性。
电子元器件受环境影响很大,我们致力于解决该问题,苏州赛拓检测欢迎您的咨询
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