汕头耐电压测试

STT经过数年的积累和发展已建设成为一个集试验技术研究与应用、试验检测与分析、试验设备研制为一体的综合性检测服务机构。拥有一支高学历高素质团队，具备丰富的环境可靠性试验工程技术、失效分析技术、理化检测技术研究及实践经验，依据ISO/IEC17025：2006进行实验室管理，遵循“、、科学、”的准则，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准，为企业提供检测技术服务。
介电强度
在规定的试验条件下，击穿电压与施加电压的两电之间距离（即样品厚度）的商。单位KV/mm

参考标准：
GB/T 1409-2006
GB/T 1693-2007
ASTM D150-11

对于电子元器件，特别是对于在环境条件下使用的电子元器件，进行模拟环境影响的测试是重要的。以下是一些常见的电子元器件模拟环境影响的测试项目：

介质损耗
由绝缘材料作为介质的电容器上锁施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角为介质损耗角，其正切值为介质损耗因数。
电子元器件受环境影响很大，我们致力于解决该问题，苏州赛拓检测欢迎您的咨询
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