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STT致力于通过在环境可靠性试验与试验工程技术方面自主科技创新活动,为电子、汽车、集成电路、微波、光电、机电、机械、IT领域等不同厂商生产的产品提供、全面的可靠性试验、可靠性设计及工艺改进的系统解决方案,促进科技进步,确保产品的质量与可靠性符合标准,降低企业质量成本、促进企业发展、增强企业的竞争力。
介电常数
电容器的电之间及电周围的空间全部充以绝缘材料时,其电容Cx与同样电构成的真空电容C0之比εr=Cx/C0
参考标准:
GB/T 1409-2006
GB/T 1693-2007
ASTM D150-11
ESD测试:模拟元器件在静电放电环境下的性能表现,包括人体静电放电(ESD)和设备静电放电(ESD)测试,以评估元器件的静电防护能力。
击穿电压
在规定的试验条件下,试样发生击穿时的电压,单位KV
参考标准:
ASTM D149-09(2013)
GB/T 1408.1-2006
IEC 60243-1-2013
ASTM D1000-10
GB/T 4677-2002
介质损耗
由绝缘材料作为介质的电容器上锁施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角为介质损耗角,其正切值为介质损耗因数。
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