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STT经过数年的积累和发展已建设成为一个集试验技术研究与应用、试验检测与分析、试验设备研制为一体的综合性检测服务机构。拥有一支高学历高素质团队,具备丰富的环境可靠性试验工程技术、失效分析技术、理化检测技术研究及实践经验,依据ISO/IEC17025:2006进行实验室管理,遵循“、、科学、”的准则,依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准,为企业提供检测技术服务。
环境老化测试:模拟元器件在长期使用或存储过程中受到的环境影响,包括高温老化、高湿老化等测试,以评估元器件的寿命和稳定性。
击穿电压
在规定的试验条件下,试样发生击穿时的电压,单位KV
参考标准:
ASTM D149-09(2013)
GB/T 1408.1-2006
IEC 60243-1-2013
ASTM D1000-10
GB/T 4677-2002
参考标准:
GB/T 1409-2006
GB/T 1693-2007
ASTM D150-11
表面电阻率
在绝缘材料的表面层里的直流电场强度与线电流密度之商,即单位面积内的表面电阻;单位为Ω/sq
电子元器件受环境影响很大,我们致力于解决该问题,苏州赛拓检测欢迎您的咨询
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主要经营苏州赛拓检测,检验检测,包装运输件检测,包装材料检测,可靠性检测。
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